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  • 日本拓普康topcon2维分光辐射计 SR-5100 查看详细介绍

    日本拓普康topcon2维分光辐射计 SR-5100以非破坏・非接触的方式,测量光源的光谱特性,材料分光穿透率及物体的分光反射率特性,拥有高分辨率(500万像素)高量程(170亿cd/m2) 透过每1nm的分光特性测量,在客户产品质量维持上做出贡献。广泛应用LCD、OLED、QD、激光、Micro LED及关联材料等的亮度・色度、分光光谱的评价,汽车仪表盘及内外装照明的发光分布特性、分光光谱等等

    更新时间:2021-12-20

    厂商性质:代理商

    产品型号:

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