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德国Mahr MarSurf XR 1粗糙度测量站

简要描述:德国Mahr MarSurf XR 1粗糙度测量站轻松测量粗糙度、波纹度,无论是在测量室还是在生产中,MarSurf XR1粗糙度仪基于计算机平台的仪器都能根据国际标准提供超过 80 种符合当前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓,多个不同驱动单元或设备可同时连接 MarSurf XR1粗糙度测量站

  • 更新时间:2024-01-17
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产品详情
品牌MarCal/德国马尔产地类别进口
应用领域电子,航天,汽车,电气,综合

德国Mahr MarSurf XR 1粗糙度测量站

轻松测量粗糙度、波纹度

用户友好型表面度量的理想的低成本入门仪器。

无论是在测量室还是在生产中,该基于计算机平台的仪器都能根据国际标准提供所有常见螺纹参数和轮廓。

Mahr 的 MarSurf XR 1 是面向未来的粗糙度系统的代表。


德国Mahr MarSurf XR 1粗糙度仪测量站特点:

• 超过 80 种符合当前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓

• 带通滤波器 Ls 符合新标准;Ls 也可关闭或根据需要更换

• 全面的测量记录

• 可以使用内置教学方法快速创建 Quick&Easy 测量程序

• 自动选择截止和扫描长度


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• 通过设置 Ra 或 Rz 参数支持各种校准方法(静态和动态)

• 可调整维护和校准间隔

• 多种测量站配置可用于自定义应用

• 多种选项,提高系统灵活性

• 各种用户权限级别,避免设备被滥用


多个不同驱动单元或设备可同时连接 MarSurf XR 1

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德国Mahr MarSurf XR 1粗糙度测量站技术参数:

测量原则

探针法

测头

BFW 无导块系统配有 MarSurf SD 26 驱动装置和/或 PHT 有导块系统配有 MarSurf RD 18 驱动装置

测量范围 mm

+/- 250 µm(高达 +/- 750 µm,3x 测杆长度)适用于 BFW 系统

350 µm 适用于 PHT 测头系统


过滤器符合 ISO/JIS 标准

ISO 16610-21 标准滤波(代替 ISO 11562 标准的高斯滤波),ISO 16610-31 标准高斯滤波

扫描长度

MarSurf GD 26 / SD 26:自动;0.56 mm*;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm,56 mm,

测量至挡块,可变

扫描长度取决于 驱动装置

RD 18:自动;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm


采样长度数量符合 ISO/JIS

1 至 50(默认:5)

针尖

2 µm

测量力 (N)

0.75 mN

表面参数

超过 80 种符合当前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R、P 和 W 轮廓


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